11月4日，在半导体材料及零部件分析测试技术研讨会上，由江丰电子分析检测中心与甬江实验室材料分析与检测中心联合建立的高纯材料痕量元素分析联合实验室揭牌成立。此次合作标志着双方将在高纯电子材料分析测试领域开展更加深入、系统的技术协同攻关，共同推动关键检测技术的突破。

 

 

该联合实验室是双方围绕半导体核心分析测试技术需求打造的合作平台。依托甬江实验室在先进分析测试平台与仪器设备等方面的综合优势，以及江丰电子在材料、工艺研发方面的深厚积累，联合实验室将聚焦高纯电子材料中痕量元素的分析测试方法创新，推动建立更加精准、可靠的检测技术体系。

 

江丰电子是国内靶材领域的领先企业，对材料特性及工艺过程有着长期的研究和实践基础。双方的合作将有效整合“分析测试能力”与“材料工艺理解”两方面的优势，通过共同研究新方法、新技术，为国产高纯电子材料品质提升提供有力的支撑。

 

 

研讨会上，来自政府、企业、高校及科研院所等的多位代表参会，围绕分析测试技术的现状与发展展开深入交流。多位业内专家分享了前沿表征技术的应用与实践经验，从不同角度阐述了分析测试技术在半导体材料研发与生产中的关键作用，涵盖了半导体陶瓷检测、材料及器件失效分析技术等专业领域。来自仪器设备厂商的专家们还分享了EDS、EBSD、GDMS等多项前沿分析技术的最新应用进展，为行业提供了新的技术思路。

 

随着我国半导体产业持续向更高精度、更高纯度迈进，材料纯度与零部件精度已趋近极限，分析检测技术正成为支撑产业高质量发展的“关键之眼”。本次研讨会及联合实验室的成立，将进一步凝聚产业链上下游力量，推动高端检测技术装备的创新突破，为我国半导体产业的自主可控与高质量发展提供坚实支撑。

 

 

会议期间，与会人员还参观了阳明研究院及江丰电子分析检测中心，实地了解其设备配置与检测流程。